PCT高壓加速老化試驗箱應用范圍：

主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

試驗箱設備特點：
1.圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結構,符合工業(yè)安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現(xiàn)象.
2.圓幅內(nèi)膽,不銹鋼圓弧型內(nèi)膽設計,可避免蒸氣過熱直接沖擊.
3.水管采用銅管+喇叭口，精密設計,氣密性良好,耗水量少。
4.型packing ,材質：耐高溫夕膠發(fā)泡成型，內(nèi)箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長packing壽命.
6.實驗開始前可將原來內(nèi)箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing＜1micom.以確保箱內(nèi)之純凈度.
7.臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障提示.
8.機臺具有定時干燥功能 , 使試驗產(chǎn)品處于干燥狀態(tài).
9.水箱采用16L大容量水箱，置于箱體底部，采用自動補水功能；試驗不終斷 ; 試驗結束時設備會自動瀉除壓力.

試驗箱滿足標準：
1.IEC60068-2-66 ??
2.JESD22-A102-B
3.EIAJED4701 ? ? ?
4.EIA/JESD22
控制器:微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器
分辨率溫度：0.1壓力：指針式0.1
控制穩(wěn)定度:溫度：±0.5℃，濕度：
內(nèi)箱材質:SUS316#不銹鋼
外箱材質:鋼板烤漆或不銹鋼（依客戶選擇）
溫度范圍:110℃～132℃ 110℃～147℃
濕度范圍:00%RH飽和蒸氣
壓力范圍:表壓力+0.2～2.0kg/cm2 表壓力+0.2～3.5kg/cm2
加壓時間:大約45分鐘 大約55分鐘
循環(huán)方式:蒸氣自然對流循環(huán)
安全保護:感溫器檢測保護，階段高溫保護，階段高壓保護，箱門壓力限制，水箱缺水報警斷電，溫度加熱器保護，濕度加濕器保護，二階段高溫保護，二階段高壓保護，三階段緊急泄壓保護，，手動泄壓保護，自動泄壓等。

PCT高壓加速老化試驗箱技術參數(shù):
型    號       PCT-250    PCT-350 PCT-450     PCT-550
內(nèi)箱尺寸（cm）Φ25×D35  Φ30×D45  Φ40×D55    Φ50×D60
外箱尺寸（cm）W56×H65×D105  W66×H105×D125   W76×H115×D135  W860×H135×D145